CX-3110AW任意波形損耗測量裝置
（產品示意圖，具體以實物配置為準）
◆ 簡介
CX-3110AW任意波形損耗測量裝置適用于軟磁材料動態磁性參數測量可準確測量電工鋼片（帶）、坡莫合金、非晶和納米晶等軟磁材料的
交流磁性參數：比總損耗Ps、磁極化強度Jm、磁場強度Hm、比視在功率Ss、振幅磁導率，以及交流磁化曲線和損耗曲線。
測試系統采用數字信號合成及處理技術, 由高速寬頻帶雙極性功率放大器、可準確測量電工鋼片（帶）、坡莫合金、非晶和納米晶等軟磁材料的
高精密寬頻功率分析儀和工控計算機組成自動測試系統， 配置軟磁高頻損耗測量系統V8.0測量軟件，可實現各種復雜的磁特性測試以及數據管理。
◆ 設備特點
| 1.采用計算機控制的數字化電源和標準功率表，整個測試過程自動完成。 2.測試樣品具有閉合磁路的結構，直接在樣品上繞線測量；樣品、磁化線圈（N1）和測量線圈（N2）共 同組成空載變壓器。 3.磁化線圈回路與標準功率表的電流端串聯，通過讀取功率表的電流峰值得到磁場峰值。 4.測量線圈接到標準功率表的電壓輸入端，通過讀取功率表的電壓有效值來計算磁感應強度的峰值。 |
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◆ 測試項目
1. 閉路樣品
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| 將樣品、磁化線圈（N1）、測量線圈（N2）共同組成一個空載變壓器。可測量環形、矩形，CD形、EE形、UU形，PQ形等具有閉合磁路結構的試樣。 |
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材料 | 測量參數 | 適用標準 |
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硅鋼、非晶、納米晶、坡莫合金和SMC軟磁復合材料等 | Ps、Bm、Hm、Ss、ua，以及交流磁化曲線和損耗曲線 | GB/T 3658-2008 GB/T 19346.1-2017 | ||
2.愛潑斯坦方圈
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愛潑斯坦方圈是用于測量電工鋼帶磁特性參數的磁化裝置。由四個線圈和空氣磁通補償線圈組成,四個線圈的每一個都包含初級磁化繞組和次級感應繞組。測試時由初級線圈、次級線圈和作為鐵芯的電工鋼帶試樣組成一個空載變壓器。
型號 | ES-700 | ES-200 |
適用標準 | GB/T 3655和IEC 60404-2 | GB/T 10129 |
等效磁路 | 940mm | 940mm |
線圈匝數 | N1=N2=700匝 | N1=N2=200匝 |
適用頻率 | 50?400Hz | 400Hz～10kHz |
樣品尺寸 | 寬30mm±0.2mm,長280～320mm±0.5mm | |
試樣質量 | 240g?1000g | 200g?1000g |
3.SST-300磁導計
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| 磁導計是用于電工鋼帶單片樣品測量時的磁化裝置，由磁軛、勵磁線圈和極靴等組成。測試時將被測試樣放入磁導計中與磁軛一起構成閉合磁路。 可根據用戶要求定制各種規格的非標磁導計。 |
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測量參數 | 技術指標 |
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參考標準 | GB/T 13789-和IEC 60404-3 | ||
適用頻率范圍 | 50Hz?150Hz | ||
樣品尺寸 | 30mm X 300mm（單片） | ||
試樣質量 | 10g?30g | ||
◆ 技術參數
1.硬件參數
※ 使用環境 | |
參數 | 技術指標 |
輸入電源 | 單相220V，50Hz |
使用環境 | 環境溫度：23±5℃；環境濕度：30～75%RH |
外磁場干擾 | 應絕對避免 |
熱平衡時間 | 10分鐘 |
※ 功率放大器 | |
參數 | 技術指標 |
放大波形 | 任意波形 |
最大輸出功率 | 900Wp 或定制更高功率 |
頻率范圍 | 40～10kHz或定制更高頻率 |
頻率細度 | < 0.1%×當前值，頻率誤差< 0.05% |
輸出電壓 | 0～45Vp |
※功率分析儀 | |
參數 | 技術指標 |
頻率測量 | 40Hz～100kHz |
電流測量 | 0～10A |
電壓測量 | 0～100V |
相位精度 | 1% ±0.05° |
2、技術指標
? 依據GB/T 3655，在50Hz、60Hz頻率下，使用625px愛潑斯坦方圈測量30×300的硅鋼標樣。 | |||||||||
被測參數 | Ps(%) | Hrms(%) | Bm(%) | Hm(%) | |||||
不確定度(k=2) | 1 | 2 | 1 | 2 | |||||
重復性(恒溫) | ± 0.5 | ± 1 | ± 0.5 | ± 1 | |||||
? 依據國標GB/T 3658，在40Hz～10kHz頻率下，測量坡莫合金環形試樣 | |||||||||
被測參數 | Ps(%) | μa(%) | δ(%) | Bm(%) | Hm(%) | ||||
不確定度(k=2) | 3 | 2 | —— | 1 | 1 | ||||
重復性(恒溫) | ± 1.5 | ± 1 | ± 1 | ± 0.5 | ± 0.5 | ||||
? 依據國標GB/T 19346.1，在40Hz～10kHz頻率下，測量非晶環形試樣 | |||||||||
被測參數 | Ps(%) | μa(%) | Ss(%) | Bm(%) | Hm(%) | ||||
不確定度(k=2) | 3 | 3 | 3 | 1 | 1 | ||||
重復性(恒溫) | ± 1.5 | ± 1.5 | ± 1.5 | ± 0.5 | ± 0.5 | ||||
◆ SMTest測量軟件
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| ? 運行環境：測量軟件運行于Windows操作系統下，操作簡捷。? 系統語言：中文。 ? 有多種單位制式可選，以保證不同用戶各自的使用習慣。 ? 支持環形、EE、EI、CD、矩形、雙孔、BS和其它等各種形 狀樣品參數的輸入。 ? 可根據樣品外形尺寸計算樣品的有效截面積和有效磁路長度。 ? 支持一次設置多組測量條件，可同時設置固定頻率、固定Bm 和固定Hm等多種測量模式，一鍵完成多條件測試。 ? 每組一次設置1～100個測試點，支持批量快速設置。 ? 設置的測量條件保存到“保存的測量條件”，無需重復輸入測 量條件。 ? 文件系統采用數據庫格式，可輸出測試結果到Excel表格中。 ? 測試數據自動保存，支持歷史數據查詢、調入和刪除。 |
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?測試曲線 |
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